Nouveau service de microscopie électronique à balayage

Vous souhaitez visualiser vos nanomatériaux ? Que vous soyez une entreprise privée ou un organisme public, notre nouveau service de microscopie électronique à balayage est disponible pour vous. Un nouvel appareil, un Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) CROSSBEAM 540 s’ajoute à notre liste afin de vous offrir un service adapté à vos besoins. Voici quelques caractéristiques de nos SEM:

–   Résolution sous-nanométrique

–   Analyse élémentaire de haute précision (EDS)

–   Service de préparation des échantillons disponible–   Accompagnement lors de l’élaboration de votre protocole

–   Et bien d’autres

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