Laboratoire

Laboratoire d’Ingénierie de Surface, Laboratoire de Biomatériaux et de Bioingénierie, Laboratoire de Biomatériaux pour l’Imagerie Médicale

Département

Département de génie des mines, de la métallurgie et des matériaux

Organisme(s) subventionnaire(s) :

CRSNG, IRSC, NanoQuébec, FRQNT, MRIFCE, iBiomat, CHU de Québec, Université Laval

Fournisseur (modèle)

Digital Instruments (DimensionTM 3100 Atomic Force Microscope)

Mise en fonction

1999

Description de l’équipement

La microscopie à force atomique (AFM) est une technique qui permet d’analyser la topographie de surface avec une résolution verticale de l’ordre de l’angström (i.e. taille du rayon atomique). Elle est basée sur les interactions entre une pointe d’une dizaine de nanomètres et les atomes à la surface de l’échantillon à analyser. La microscopie AFM est une technique d’analyse de surface très utilisée en raison de sa haute résolution et de la diversité des échantillons qu’elle est en mesure de cartographier. L’AFM permet également de mesurer la rugosité et peut donner une information qualitative sur la dureté de surfaces hétérogènes. Il peut servir aussi à mesurer l’épaisseur de couches nanométriques grâce à de la nanoindentation. Cet appareil est utilisé en salle blanche afin de réduire le plus possible les interférences.

Au sein du laboratoire, l’appareil est principalement utilisé pour l’analyse topographique de surface avant et après modification pour évaluer par exemple l’homogénéité dans la dispersion de nanoparticules ou le greffage de protéines. Il est aussi régulièrement utilisé pour évaluer les variations de rugosité à la suite d’un traitement, ainsi que pour mesurer l’épaisseur de nanocoating.

Caractéristiques spécifiques

• 4 modes d’analyse:

  • Contact

  • Tapping

  • Milieu aqueux

  • Nanoindentation

• Plages de balayage : plan X-Y : 90 μm

• Résolution en profondeur : 0,1 nm

• Résolution latérale : 10 nm

Champs d’expertise de l’appareil

• Chimie de surface

• Topographie de surface

• Microscopie

• Rugosité

Conditions d’utilisations

Nécessité d’une formation sur l’appareil ou de l’utilisation de l’appareil par un professionnel de recherche. Disponible pour collaborateurs académiques et/ou industriel.

Coût de location (CAD)

Campus

À discuter avec la responsable

Hors campus académique

À discuter avec la responsable

Industries

À discuter avec la responsable

Réservation

Pascale Chevalier Ph. D.

pascale.chevallier@crchudequebec.ulaval.ca

418-525-4444 poste 52381